Measuring systemASML
YieldStar S-200B
Measuring system
ASML
YieldStar S-200B
Година на производство
2011
Состојба
Користено
Локација
Dresden 

Сликите прикажуваат
Прикажи карта
Податоци за машината
- Ознака на машината:
- Measuring system
- Произведувач:
- ASML
- Модел:
- YieldStar S-200B
- Година на производство:
- 2011
- Состојба:
- многу добро (користено)
- Функционалност:
- целосно функционален
Цена и локација
- Локација:
- Heilbronner Str. 22, 01189 Dresden, Deutschland

Повикајте
Детали за понудата
- ID на огласот:
- A19967480
- Референтен број:
- DV10125
- Ажурирање:
- последно на 10.09.2025
Опис
Optical overlay metrology system, Advanced Semiconductor Materials Lithography stand-alone overlay metrology system for 300 mm wafers, YieldStar S 200B
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Technical data:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
General information:
Hfjdpfxjxbnt Ee Adieb
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and highly precise measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch monitoring and production process control as a stand-alone system.
Огласот е автоматски преведен. Можно е да има грешки во преводот.
Model: S200B
Type: YieldStar
Year of manufacture: 2011
Technical data:
Wafer size: 300 mm (12")
Laser source: LPPS, water cooling
General information:
Hfjdpfxjxbnt Ee Adieb
The YSS200B is an optical overlay measurement system used for fast and highly precise measurement of overlay deviations on 300 mm wafers – typically for post-etch monitoring and production process control as a stand-alone system.
Огласот е автоматски преведен. Можно е да има грешки во преводот.
Документи
Доставувач
Забелешка: Регистрирајте се бесплатно или најавете се, за пристап до сите информации.
Регистриран од: 2014
Испрати барање
Телефон & Факс
+49 351 8... огласи
Вашиот оглас беше успешно избришан
Се случи грешка


